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OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目:? 絕.對反射率測量? 多層膜解析? 光學常數(shù)分析(n:折射率,k:消光系數(shù))
查看詳情半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術,通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
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